SN74BCT8240ADWR
- Texas Instruments
- IC SCAN TEST DEVICE BUFF 24-SOIC
- 24-SOIC (0.295, 7.50mm Width)
Manufacturer Product Number | SN74BCT8240ADWR |
Manufacturer | Texas Instruments |
Description | IC SCAN TEST DEVICE BUFF 24-SOIC |
Series | 74BCT |
LogicType | Scan Test Device with Inverting Buffers |
SupplyVoltage | 4.5V ~ 5.5V |
NumberofBits | 8 |
OperatingTemperature | 0°C ~ 70°C |
MountingType | Surface Mount |
Package/Case | 24-SOIC (0.295, 7.50mm Width) |
Подать заявку на образец
У каждого клиента есть возможность подать заявку на получение бесплатных образцов. Пожалуйста, оставьте сообщение через веб-сайт или отправьте нам письмо(info@springchips.ru). Наши сотрудники отдела продаж ответят на ваш запрос в течение 24 часов.Гарантия качества продукции
Мы предоставим 90-дневную гарантию качества на все товары, продаваемые нашей компанией. Гарантийный срок на специальные товары может быть продлен до 1 года. Пожалуйста, будьте уверены в покупке.О логистике
Логистические компании: DHL, UPS, FEDEX TNT Большинство товаров поставляется из Китая и прибывает в Россию примерно через 5-7 дней.Контакты
Время работы: с 9.00 до 18.00Тел.:(+86) 755 83299131
E-mail: info@springchips.ru